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  產品展示 - 掃描電子顯微鏡JSM-6610(SEM)
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掃描電子顯微鏡JSM-6610(SEM)

掃描電子顯微鏡JSM-6610(SEM)與日本電子公司的元素分析儀(EDS)組合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制,操作員只用一只鼠標,就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

大樣品室和馬達驅動樣品臺

樣品室對應樣品的直徑可達到200mm,5軸馬達驅動確保了高效率的樣品移動和觀察。

操作窗口

直觀的操作界面的設計,簡明易懂便于迅速掌握操作。

支持多用戶

單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖標,營造高效率的操作環境。用戶登錄時,即可加載已注冊過的設定。

同時顯示兩幅圖像

畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。

掃描電子顯微鏡JSM-6610掃描圖1

微細結構測量

適合于多種測量功能。可在觀察圖像上直接進行測量。也可將測量結果貼至SEM圖像,保存在文件中。

標準的全對中樣品臺,能收錄三維照片

3D Sight(選配件),能夠進行平面測量和高度測量,實現立體俯視圖。

掃描電子顯微鏡JSM-6610掃描圖2

從圖像觀察到元素分析,配合連貫一條龍

分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監視器,一臺用于SEM圖像觀察和另一臺用于元素分析(EDS)。一只通用鼠標即可同時控制兩臺監視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。

維護簡便

工廠預置中心燈絲,十分便于更換。因此,可長期保持穩定的高性能。此外,操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護的步驟說明。

可信賴的真空系統

真空系統使用高性能的擴散泵保證了潔凈的高真空狀態。擴散泵內部無活動部件,體現了操作穩定,維護簡便的特色。

掃描電子顯微鏡JSM-6610((SEM)的技術參數:

JSM-6610規格

保證分辨率

3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)

放大倍數

5至300,000x

加速電壓

0.3kV至30kV

電子槍

工廠預對中燈絲

聚光鏡

變焦聚光鏡

物鏡

錐形物鏡

樣品臺

全對中樣品臺

X-Y

125mm-100mm

Z

5mm至80mm

旋轉

360°

傾斜

-10°至+90°

排氣系統
(高真空模式)

DPx1,RPx1

排氣系統
(低真空模式)

DPx1,RPx2

 

 
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